Principio
Diversas muestras metálicas se someten a rayos X policromáticos. La radiación de fluorescencia resultante se analiza con la ayuda de un detector semiconductor y un analizador multicanal. Se determinan la energía de las líneas de rayos X características y sus anchuras completas a medio máximo. Además, se examina la dependencia de las anchuras completas al medio máximo y el desplazamiento del centroide de la línea en función de la tasa de recuento.
Tareas
- Calibración del detector semiconductor con ayuda de la radiación característica del tubo de rayos X de molibdeno.
- Registro de los espectros de la radiación de fluorescencia generada por las muestras metálicas.
- Determinación de los niveles de energía y de las anchuras completas de los medios máximos de las líneas Kα características y su representación gráfica.
- Determinación y representación gráfica de las anchuras completas a medio máximo en función de la tasa de recuento, utilizando como ejemplo la línea Kα del circón.
- Determinación y representación gráfica del desplazamiento del centroide de la línea en función de la tasa de recuento, utilizando como ejemplo la línea Kα del circón.
Lo que se puede aprender sobre
- Bremsstrahlung
- la radiación X característica
- la radiación de fluorescencia
- procesos de conducción en semiconductores
- el dopaje de los semiconductores
- diodos de espiga
- resolución y poder de resolución
- energía de los semiconductores
- analizadores multicanal