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Datos técnicos


Resolución de energía del detector de energía de rayos X

Nº de artículo P2544105

Principio

Diversas muestras metálicas se someten a rayos X policromáticos. La radiación de fluorescencia resultante se analiza con la ayuda de un detector semiconductor y un analizador multicanal. Se determinan la energía de las líneas de rayos X características y sus anchuras completas a medio máximo. Además, se examina la dependencia de las anchuras completas al medio máximo y el desplazamiento del centroide de la línea en función de la tasa de recuento.

Tareas

  1. Calibración del detector semiconductor con ayuda de la radiación característica del tubo de rayos X de molibdeno.
  2. Registro de los espectros de la radiación de fluorescencia generada por las muestras metálicas.
  3. Determinación de los niveles de energía y de las anchuras completas de los medios máximos de las líneas Kα características y su representación gráfica.
  4. Determinación y representación gráfica de las anchuras completas a medio máximo en función de la tasa de recuento, utilizando como ejemplo la línea Kα del circón.
  5. Determinación y representación gráfica del desplazamiento del centroide de la línea en función de la tasa de recuento, utilizando como ejemplo la línea Kα del circón.

Lo que se puede aprender sobre

  • Bremsstrahlung
  • la radiación X característica
  • la radiación de fluorescencia
  • procesos de conducción en semiconductores
  • el dopaje de los semiconductores
  • diodos de espiga
  • resolución y poder de resolución
  • energía de los semiconductores
  • analizadores multicanal

Volumen de suministro

XR 4.0 Unidad de rayos X, 35 kV 09057-99 1
XR 4.0 X-ray goniometro 09057-10 1
X-ray Módulo enchufable con tubo de rayos X de cobre (Cu) 09057-51 1
XR 4.0 Set de Extensión Análisis de Materiales con Rayos X 09165-88 1

PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
www.phywe.com