Trägerplatte mit Kupferprobe zur Bestimmung des normalen Halleffekts als Funktion der Temperatur.
Ausstattung und technische Daten
- Mit integriertem Heizsystem,Thermoelement, Spindelpotentiometer zur Fehlspannungskompensation, 4-mm-Anschlussbuchsen und mit Haltestiel.
- Probenanschluss in 5-Leitertechnik.
- Probenfläche (mm): 25 x 25.
- Probendicke: 0,018 mm.
- Probenstrom: max. 20 A.
- Heizspannung: 6 V.
- Heizstromstärke: 5 A.
- Thermoelement Fe/CuNi.
- Trägerplatte (mm): 160 x 100.