Halleffekt von Kupfer, Trägerplatine

Trägerplatte mit Kupferprobe zur Bestimmung des normalen Halleffekts als Funktion der Temperatur.

Ausstattung und technische Daten

• Mit integriertem Heizsystem,Thermoelement, Spindelpotentiometer zur Fehlspannungskompensation, 4-mm-Anschlussbuchsen und mit Haltestiel.
• Probenanschluss in 5-Leitertechnik.
• Probenfläche (mm): 25 x 25.
• Probendicke: 0,018 mm.
• Probenstrom: max. 20 A.
• Heizspannung: 6 V.
• Heizstromstärke: 5 A.
• Thermoelement Fe/CuNi.
• Trägerplatte (mm): 160 x 100.