XR 4.0 X-ray Кристалл LiF , с креплением

LiF-монокристалл, установленный в держателе.

В соединении с рентгеновской установкой для экспериментов Лауэ и анализа энергий рентгеновского излучения по методу Брэгга.

Оборудование и технические спецификации

• Поверхность кристалла отполирована.
• Ориентация (100)
• Расстояние между элементами решетки 201,4 пм
• Толщина 0,5 мм
• Полезная поверхность (10 x 12) мм