Определение постоянной решетки монокристалла

Принцип

Полихроматические рентгеновские лучи падают на монокристалл под различными углами падения. Лучи отражаются от плоскостей решетки монокристалла. Энергетический детектор используется только для измерения тех частей излучения, которые создают конструктивные помехи. Постоянная решетки кристалла определяется с помощью различных порядков дифракции и энергии отраженных лучей.

Задание

1. Определение энергии рентгеновских лучей, отраженных от плоскостей решетки LiF-кристалла для различных углов падения или порядков дифракции.
2. Расчет постоянной решетки LiF-кристалла на основе углов скольжения и соответствующих значений энергии.

Что вы можете узнать о

• Бремсстралунг
• Характерное рентгеновское излучение
• Энергетические уровни
• Кристаллические структуры
• Решетка Браве
• Реципрокные решетки
• Индексы Миллера
• Брэгговское рассеяние
• Интерференция
• Полупроводниковые детекторы
• Многоканальные анализаторы