Изучение температурной зависимости резисторов и диодов

Кат.номер P2410401 | Тип: Эксперименты

45 Протокол
45 Протокол
Университет
Студенты
большой сайт

Принцип

Определяется температурная зависимость электрического параметра (например, сопротивления, напряжения в проводящем состоянии, блокирующего напряжения) различных компонентов. Для этого набор погружных зондов погружают в водяную баню и измеряют сопротивление через регулярные температурные интервалы.

Преимущества

  • Одна установка для измерения как электрических компонентов и полупроводниковых диодов, так и блокирующего напряжения
  • Все погружные пробники смонтированы на одной удобной термостойкой печатной плате для удобства обращения с ними

Задание

  1. Измерение температурной зависимости сопротивления различных электрических компонентов.
  2. Измерение температурной зависимости напряжения в проводящем состоянии полупроводниковых диодов.
  3. Измерение температурной зависимости напряжения при эффекте Зенера и лавинном эффекте.

Цели обучения

  • Углеродный пленочный резистор
  • Металлический пленочный резистор
  • PTC
  • NTC
  • Z-диод
  • Лавинный эффект
  • Эффект Зенера
  • Генерация носителей заряда
  • Свободный путь
  • Правило Мати

Название
Имя файла
Размер файла
Тип файла
Phywe::Template.sbindingTableCell6
(en) Versuchsbeschreibung
p2410401_en .pdf
Размер файла 1.43 Mb
pdf
-
Бесплатная доставка от 300,- €