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Données techniques

Détermination des constantes de réseaux d'un monocristal

Article n° : P2546205

Principe

Des rayons X polychromatiques frappent un monocristal sous différents angles d'incidence. Les rayons sont réfléchis par les plans du réseau du monocristal. Un détecteur d'énergie n'est utilisé que pour mesurer les parties du rayonnement qui interfèrent de manière constructive. La constante de réseau du cristal est déterminée à l'aide des différents ordres de diffraction et de l'énergie des rayons réfléchis.

Objectifs

  1. Détermination de l'énergie des rayons X qui sont réfléchis sur les plans du réseau du cristal de LiF pour différents angles d'incidence ou ordres de diffraction.
  2. Calcul de la constante de réseau du cristal de LiF sur la base des angles d'incidence et des valeurs d'énergie associées.

Ce que vous pouvez apprendre sur

  • Bremsstrahlung
  • Rayonnement X caractéristique
  • Niveaux d'énergie
  • Structures cristallines
  • Réseau de Bravais
  • Réseaux réciproques
  • Indices de Miller
  • Diffusion de Bragg
  • Interférence
  • Détecteurs à semi-conducteurs
  • Analyseurs multicanaux

Contenu de livraison

XR 4.0 Appareil à rayons X, 35 kV 09057-99 1
Goniomètre pour appareil à rayons-X XR 4.0 09057-10 1
Module tiroir avec tube à rayons X, anticathode cuivre 09057-51 1
XR 4.0 Kit d'extension analyse des matériaux 09165-88 1
 
PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
www.phywe.com
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