Spectroscopie de fluorescence X - calibration du détecteur

Principe

Divers échantillons métalliques sont soumis à des rayons X polychromatiques. Le rayonnement de fluorescence qui en résulte est analysé à l'aide d'un détecteur à semi-conducteur et d'un analyseur multicanaux. Les maxima d'intensité des lignes caractéristiques correspondantes des rayons X sont déterminés. Les valeurs d'énergie prédéfinies des raies caractéristiques et des canaux de l'analyseur multicanaux qui doivent être attribuées entraînent à leur tour un étalonnage du détecteur d'énergie à semi-conducteur.

Objectifs

1. Enregistrer les spectres du rayonnement de fluorescence généré par les échantillons métalliques.
2. Déterminer les numéros de canal des maxima d'intensité des lignes caractéristiques du rayonnement de fluorescence correspondant.
3. Représenter graphiquement les énergies des raies prédéfinies en fonction des numéros de canal pour deux facteurs de gain de l'analyseur multicanaux.

Ce que vous pouvez apprendre sur

• Bremsstrahlung
• Rayonnement X caractéristique
• Niveaux d'énergie
• Rayonnement de fluorescence
• Processus de conduction dans les semi-conducteurs
• Dopage des semi-conducteurs
• Pin-diodes
• Détecteurs d'énergie à semi-conducteurs
• Analyseurs multicanaux