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Données techniques


Etude de la diffraction par des poudres cristallines avec structure tétragonale

Article n° : P2542405
Principe

Un échantillon de poudre polycristalline de dioxyde de plomb est irradié par le rayonnement d'un tube à rayons X avec une anode en cuivre. Un tube compteur Geiger-Mueller est automatiquement pivoté pour détecter le rayonnement qui est réfléchi de manière constructive par les différents plans du réseau des cristallites. Le modèle Debye-Scherrer est automatiquement enregistré. L'évaluation du modèle permet non seulement d'attribuer les réflexes de Bragg aux différents plans du réseau et d'obtenir ainsi le type de réseau de Bravais correspondant, mais aussi d'obtenir des valeurs pour leur espacement ainsi que pour la constante de réseau du dioxyde de plomb et le nombre d'atomes dans la cellule unitaire.

Objectifs

  1. Enregistrez l'intensité des rayons X Cu rétrodiffusés par un échantillon de poudre de dioxyde de plomb en fonction de l'angle de diffusion.
  2. Calculez la constante de réseau de la substance à partir des positions angulaires des lignes de Bragg individuelles.
  3. Attribuez les réflexes de Bragg aux plans respectifs du réseau du dioxyde de plomb et déterminez le type de réseau de Bravais qu'il possède.
  4. Déterminez le nombre d'atomes dans la cellule unitaire.

Ce que vous pouvez apprendre sur

  • Les réseaux cristallins
  • Systèmes cristallins
  • Réseau de Bravais
  • Réseau réciproque
  • Indices de Miller
  • Facteur de structure
  • Facteur de diffusion atomique
  • Diffusion de Bragg
  • Rayons X caractéristiques
  • Monochromatisation des rayons X

Contenu de livraison

XR 4.0 Appareil à rayons X, 35 kV 09057-99 1
Goniomètre pour appareil à rayons-X XR 4.0 09057-10 1
Module tiroir avec tube à rayons X, anticathode cuivre 09057-51 1
XR 4.0 Kit d'extension analyse cristallographique 09145-88 1
Vaseline 100 g 30238-10 1

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