Résolution de l'énergie du détecteur d'énergie de rayons X

Principe

Divers échantillons métalliques sont soumis à des rayons X polychromatiques. Le rayonnement de fluorescence qui en résulte est analysé à l'aide d'un détecteur à semi-conducteurs et d'un analyseur multicanaux. L'énergie des lignes caractéristiques des rayons X et leur largeur à mi-hauteur sont déterminées. En outre, la dépendance des largeurs totales à mi-hauteur et le déplacement du centroïde de la ligne en fonction du taux de comptage sont examinés.

Objectifs

1. Calibrage du détecteur à semi-conducteurs à l'aide du rayonnement caractéristique du tube à rayons X en molybdène.
2. Enregistrement des spectres du rayonnement de fluorescence généré par les échantillons métalliques.
3. Détermination des niveaux d'énergie et des largeurs à mi-hauteur des raies Kα caractéristiques et leur représentation graphique.
4. Détermination et représentation graphique des largeurs complètes à mi-hauteur en fonction du taux de comptage, la raie Kα du zircon étant utilisée comme exemple.
5. Détermination et représentation graphique du décalage du centroïde de la ligne en fonction du taux de comptage, avec la ligne Kα du zircon utilisée comme exemple.

Ce que vous pouvez apprendre sur

• Bremsstrahlung
• le rayonnement X caractéristique
• le rayonnement de fluorescence
• les processus de conduction dans les semi-conducteurs
• le dopage des semi-conducteurs
• pin-diodes
• résolution et pouvoir de résolution
• énergie des semi-conducteurs
• analyseurs multicanaux