Mesures de l'intensité de diffraction des figures de Debeye-Scherrer utilisant une poudre à structure cubique

Principe

Un échantillon de poudre polycristalline à cristaux cubiques à faces centrées est irradié par le rayonnement d'un tube Roentgen muni d'une anode en cuivre. Un tube compteur Geiger-Mueller est automatiquement pivoté pour détecter le rayonnement qui est réfléchi de manière constructive par les différents plans du réseau des cristallites. Le diagramme de Bragg est automatiquement enregistré. Les intensités des différentes lignes de réflexion sont déterminées et comparées à celles attendues en théorie. L'évaluation permet en outre d'attribuer les réflexes de Bragg aux différents plans du réseau et de déterminer leur espacement ainsi que le type de réseau de Bravais correspondant.

Objectifs

1. Enregistrez l'intensité des rayons X du cuivre rétrodiffusés par un échantillon de poudre de cuivre à cristallisation cubique en fonction de l'angle de diffusion.
2. Calculer les distances entre les plans du réseau à partir des positions angulaires des lignes de Bragg individuelles.
3. Assignez les réflexes de Bragg aux plans de réseau respectifs. Calculer la constante de réseau de la substance et le type de réseau de Bravais.
4. Déterminer l'intensité des lignes réflexes individuelles et les comparer avec les intensités théoriquement attendues.
5. Déterminez le nombre d'atomes dans la cellule unitaire.

Ce que vous pouvez apprendre sur

• Les réseaux cristallins
• Systèmes cristallins
• Réseau de Bravais
• Réseau réciproque
• Indices de Miller
• Facteur de structure
• Facteur de diffusion atomique
• Facteur de polarisation de Lorentz
• Facteur de multiplicité
• Facteur de Debye-Waller
• Facteur d'absorption
• Diffusion de Bragg
• Rayons X caractéristiques
• Monochromatisation des rayons X