Investigation de structures cristallines par rayons X / méthode de Laue avec détecteur digital (XRIS)

Principe

Les diagrammes de Laue sont produits lorsque des monocristaux sont irradiés par des rayons X polychromatiques. Cette méthode est principalement utilisée pour la détermination des symétries cristallines et l'orientation des cristaux. Lorsqu'un monocristal de LiF est irradié par des rayons X polychromatiques, il en résulte un diagramme de diffraction caractéristique. Ce schéma est photographié avec le capteur numérique XRIS.

Objectifs

1. La diffraction de Laue d'un monocristal de LiF doit être enregistrée à l'aide du capteur numérique de rayons X.
2. Les indices de Miller des surfaces cristallines correspondantes doivent être attribués aux réflexions de Laue.

Ce que vous pouvez apprendre sur

• Réseaux cristallins
• Systèmes cristallins
• Classes de cristaux
• Réseau de Bravais
• Treillis réciproque
• Indices de Miller
• Amplitude de la structure
• Facteur de forme atomique
• L'équation de Bragg
  

Logiciel inclus. Ordinateur non fourni.