Cantilever pour la microscopie à force magnétique avec l'AFM (09700-99).
Caractéristiques Techniques
- pour la microscopie à force magnétique
- Matériau : Si, monolithique
- Revêtement réflecteur : Aluminium
- Revêtement côté échantillon : magnétique (Pt/Cr)
- Porte-puces : 3.4 x 1,6 x 0,3 mm, avec rainures d'alignement
- Fréquence de résonance : 75 kHz
- Constante du ressort : 3 N/m
- Longueur : 0,225 mm
- Largeur : 0,038 mm
- Rayon de la pointe : moins de 60nm
- 10 pièces
- Poids : 0.04 kg