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Fonction et Applications
Modes de mesure électrique du cantilever du microscope à force atomique (09700-99)
Caractéristiques Techniques
- pour les modes électriques (EFM, résistance d'étalement, modulation de force)
- Matériau : Si, monolithique
- Revêtement sur les deux faces : conducteur électrique (Pt/Cr)
- Puce de support : 3.4 x 1,6 x 0,3 mm, avec rainures d'alignement
- Rayon de la pointe : moins de 25nm
- Fréquence de résonance : 75 kHz
- Constante du ressort : 3 N/m
- Longueur : 0,225 mm
- Largeur : 0,028 mm
- 10 pièces
- Poids : 0.04 kg
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