Microscopio de Fuerza Atómica Compacto (AFM) Funciones y aplicaciones Microscopio de fuerza atómica compacto y fácil de usar para visualizar y visualizar estructuras en la escala de micro y nano metros. Desarrollado para fines educativos en laboratorios prácticos y laboratorios de pre-investigación en física, química, ciencias de la vida y ciencias de los materiales. Beneficios -Instrumento compacto todo en uno: fácil de manejar, fácil de transportar -Solución didáctica completa: instrumento + muestras + sondas + herramientas + guías de experimentación -Sistema orientado a la investigación a un tercio del precio de un instrumento de investigación. -Aproximación automática de la sonda a la muestra para evitar daños tanto en la muestra como en la sonda. -Sondas fáciles de insertar y cambiar -No es necesario ajustar el láser Equipamiento y datos técnicos -Modos de funcionamiento: Fuerza estática, Fuerza dinámica, Espectroscopia fuerza-distancia, Espectroscopia amplitud-distancia, Espectroscopia tensión-distancia, Modo de contraste de fase, MFM, EFM. -Cabezal de escaneo con unidad de control integrada en un tablero de experimentación aislado de vibraciones: dimensiones 21cm x 21cm x 18cm, interfaz USB 2.0. -Mecanismo de deslizamiento para acceder a la punta y a la muestra, con retracción automática del cabezal de escaneado y apagado automático de la iluminación de la muestra. -Velocidad máxima de escaneo de 60 ms/línea. -Hasta 2048x2048 puntos de datos. -Tipo de escaneo (escáner de puntas): electromagnético lineal de bajo voltaje. -Rango máximo de exploración: 70 µm (10% de tolerancia de fabricación). -Rango Z máximo: 14 µm. -Resolución del convertidor en XY: 1,1 nm. -Resolución del convertidor en Z: 1,1 nm. -Nivel de ruido de medición Z (modo estático RMS): 0,6 nm. -Nivel de ruido de medición Z (modo dinámico RMS): 0,5 nm. -Aproximación automática: vertical, alcance 4,5 mm. -Tamaño de la muestra: máx. 13 mm de diámetro, montaje horizontal, magnético fijo. -Traducción del micrómetro DeepL xy: desplazamiento en cada dirección min. +/- 5 mm. -Alineación en voladizo: ajuste automático. -Cantilevers: con ranuras de alineación para cantilevers de varios proveedores. -Sistema de cámara para la vista superior: Color digital USB, 2048x1536 píxeles, resolución inferior a 2 µm, zoom digital: x1, 2x, x4. -Campo de visión para la vista superior y lateral: aprox. 3mm x 3mm / 5mm x 5mm. -Iluminación de la muestra: LED blanco. -Conexión eléctrica a la punta. -Otros modos (resistencia a la dispersión, modulación de fuerza, AFM conductivo, litografía y modos de espectroscopia avanzada) disponibles con opciones de actualización de material y espectroscopia y manipulación. -Conjunto de voladizos (4 x modo estático, 4 x modo dinámico). -Juego de 4 portamuestras de repuesto para muestras propias. -Juego de 6 muestras diferentes (nanotubos, CD Stamper, estructura del chip, sección transversal de la piel, microestructura, bacterias Staphylococcus). -Juego de herramientas para el montaje de voladizos y muestras. -Suministro de energía: 100-240V, 50/60Hz. -Estuche de plástico con las dimensiones 44cm x 32cm x 25cm. -Software de medición, manipulación, análisis y visualización (una, dos y tres dimensiones). -Manual con una breve descripción de los experimentos iniciales y 5 guías experimentales detalladas: métodos básicos de imágenes, espectroscopia de fuerza básica, contraste de materiales, MFM, imágenes de muestras biológicas. -Peso (incl. caja): 10 kg.
Accesorios recomendados
Kit de extensión Análisis de Materiales, para AFM
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Kit de extensión Espectroscopía y Manipulación, para AFM
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Cámara digital vista lateral, adhesivo magnético para Microscopio de fuerza atómica compacto
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09750-00
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Viga en voladizo, Microscopio de fuerza atómica compacto, 10 Uni.
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09710-00
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Viga en voladizo, microscopio de fuerza atómica dinámico, 10 Uni.
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Viga en voladizo, magnético, 10 uni. Para Microscopio de fuerza atómica
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09712-00
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Viga en voladizo, conductividad eléctrica, 10 uni. Para microscopio de fuerza atómica conductiva
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09713-00
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