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Datos técnicos


Espectroscopía de fluorescencia de rayos X cuantitativa en materiales aleados

Nº de artículo P2545005

Principio

Varios materiales aleados se someten a rayos X policromáticos. La energía de la radiación de fluorescencia resultante se analiza con la ayuda de un detector semiconductor y un analizador multicanal. Se determina la energía de las correspondientes líneas de fluorescencia de rayos X características. Para determinar la concentración de los componentes de la aleación, se compara la intensidad de sus respectivas señales de fluorescencia con la de los elementos puros.

Tareas

  1. Calibración del detector de energía semiconductor con ayuda de la radiación característica del tubo de rayos X de tungsteno.
  2. Registro de los espectros de fluorescencia producidos por las muestras aleadas.
  3. Registro de los espectros de fluorescencia producidos por los metales puros.
  4. Determinación de los valores energéticos de las líneas de fluorescencia correspondientes.
  5. Cálculo de los niveles de concentración de los componentes de la aleación.

Lo que se puede aprender sobre

  • Bremsstrahlung
  • Características de la radiación X
  • Niveles de energía
  • Rendimiento de fluorescencia
  • Efecto Auger
  • Dispersión de fotones coherente e incoherente
  • Absorción de rayos X
  • Absorción de bordes
  • Efectos de matriz
  • Detectores de energía semiconductores
  • Analizadores multicanal

Volumen de suministro

XR 4.0 Unidad de rayos X, 35 kV 09057-99 1
XR 4.0 X-ray goniometro 09057-10 1
X-ray Módulo enchufable con tubo de rayos X de cobre (Cu) 09057-51 1
XR 4.0 Set de Extensión Análisis de Materiales con Rayos X 09165-88 1

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