Determinación de la constante de rejilla de un monocristal

Principio

Los rayos X policromáticos inciden en un monocristal bajo distintos ángulos de incidencia. Los rayos se reflejan en los planos de la red del monocristal. Con un detector de energía sólo se miden las partes de la radiación que interfieren constructivamente. La constante de red del cristal se determina con la ayuda de los distintos órdenes de difracción y la energía de los rayos reflejados.

Tareas

1. Determinación de la energía de los rayos X que se reflejan en los planos de la red del cristal de LiF para distintos ángulos de inclinación u órdenes de difracción.
2. Cálculo de la constante de red del cristal de LiF a partir de los ángulos de deslizamiento y los valores de energía asociados.

Lo que se puede aprender sobre

• Bremsstrahlung
• Características de la radiación X
• Niveles de energía
• Estructuras de cristal
• Celosía de Bravais
• Retículas recíprocas
• Índices de Miller
• Dispersión de Bragg
• Interferencia
• Detectores semiconductores
• Analizadores multicanal