Cantilever para Microscopía de Fuerza Magnética con el AFM (09700-99)
Equipo y especificaciones técnicas
- para Microscopía de Fuerza Magnética
- Material: Si, monolítico
- Recubrimiento de reflejo: Aluminio
- Recubrimiento en el lado de la muestra: magnético (Pt/Cr)
- Soporte para chips: 3.4 x 1,6 x 0,3 mm, con ranuras de alineación
- Frecuencia de resonancia: 75 kHz
- Constante del muelle: 3 N/m
- Longitud: 0,225 mm
- Anchura: 0,038 mm
- Radio de la punta: menos de 60nm
- 10 piezas
- Peso: 0,04 kg