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Datenblatt


Röntgenfluoreszenzanalyse - Kalibrierung des Röntgenenergiedetektors

Artikel-Nr.: P2544005

Prinzip

Verschiedene Metallproben werden mit polychromatischer Röntgenstrahlung bestrahlt. Die Analyse der resultierenden Fluoreszenzstrahlung erfolgt mit Hilfe eines Halbleiterdetektors und eines nachgeschalteten Vielkanalanalysators. Die Intensitätsmaxima der entsprechenden charakteristischen Röntgenlinien werden ermittelt. Aus den vorgegebenen Energiewerten der charakteristischen Linien und den zuzuordnenden Kanälen des Vielkanalanalysators resultiert eine Kalibrierung des Halbleiterenergiedetektors.

Aufgaben

  1. Registrieren Sie die Spektren der von den Metallproben erzeugten Fluoreszenzstrahlungen.
  2. Bestimmen Sie die Kanalzahlen der Intensitätsmaxima der charakteristischen Linien der entsprechenden Fluoreszenzstrahlungen.
  3. Stellen Sie für zwei verschiedene Verstärkungsfaktoren des Vielkanalanalysators die vorgegebenen Linienenergien als Funktion der Kanalzahlen grafisch dar.

Lernziele

Brems- und charakteristische Röntgenstrahlung
Energieniveaus
Fluoreszenzstrahlung
Leitungsvorgänge in Halbleitern
Dotierung von Halbleitern
pin-Dioden
Halbleiterenergiedetektoren
Vielkanalanalysatoren

Lieferumfang

XR 4.0 expert unit Röntgengerät, 35 kV 09057-99 1
XR 4.0 X-ray Goniometer 09057-10 1
XR4 X-ray Einschub mit Kupfer-Röntgenröhre 09057-51 1
XR4 Röntgengerät Erweiterungsset Materialanalyse 09165-88 1

PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
www.phywe.com