Cantilever für die Messungen von magnetischen Strukturen mit dem Rasterkraftmikroskop (09700-99).
Ausstattung und technische Daten
- für Messungen von magnetischen Proben (Magnetic Force Microscopy)
- Material: Si, monolithisch
- Reflexbeschichtung: Aluminium
- Beschichtung probenseitig: magnetisch (Pt/Cr)
- Halterung: 3,4 x 1,6 x 0,3 mm, mit Justierrillen
- Resonanzfrequenz: 75 kHz
- Federkonstante: 3 N/m
- Länge: 0,225mm
- Breite: 0,038mm
- Spitzenradius: kleiner 60nm
- 10 Stück
- Gewicht: 0,04 kg