Cantilever für Messungen im Kontaktmodus mit dem Rasterkraftmikroskop (09700-99).
Ausstattung und technische Daten
- Für Messungen im Kontaktmodus
- Material: Si, monolithisch
- Reflexbeschichtung: Aluminium
- Halterung: 3,4 x 1,6 x 0,3 mm, mit Justierrillen
- Spitzenradius: kleiner 10nm
- Resonanzfrequenz: 13 kHz
- Federkonstante: 0,2 N/m
- Länge: 0,45mm
- Breite: 0,05mm
- 10 Stück
- Gewicht: 0,04 kg