Service
Funktion und Verwendung
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Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (AFM) zum Messen von Nanostrukturen
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Vermittelt die fundamentalen Wechselwirkungen zwischen den Atomen an der Messspitze und Atomen an der Probenoberfläche
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Lernen Sie die nanometergenaue Positionskontrolle und Hystereseeffekte der piezogesteuerten Aktoren kennen
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Vermittelt das Funktionsprinzip der verschiedenen Messmodi, wie dem "Constant-Height"-Modus und dem "Constant-Force"-Modus
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Beinhaltet eine CD, DVD, Blu-Ray Disc sowie eine BudgetSensors™-Mikrostrukturprobe zur Kalibrierung
Ausstattung und technische Details
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Speziell für Praktika und Unterricht entwickelt
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Das komplette Kit beinhaltet alle Komponenten ohne das Breadboard
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inklusive ausführlicher Anleitung und Anwendungsaufgaben
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Einfacher Aufbau und einfache Versuchsdurchführung