Aufbau-Rasterkraftmikroskop

  Funktion und Verwendung

• Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (AFM) zum Messen von Nanostrukturen

• Vermittelt die fundamentalen Wechselwirkungen zwischen den Atomen an der Messspitze und Atomen an der Probenoberfläche

• Lernen Sie die nanometergenaue Positionskontrolle und Hystereseeffekte der piezogesteuerten Aktoren kennen

• Vermittelt das Funktionsprinzip der verschiedenen Messmodi, wie dem "Constant-Height"-Modus und dem "Constant-Force"-Modus

• Beinhaltet eine CD, DVD, Blu-Ray Disc sowie eine BudgetSensors™-Mikrostrukturprobe zur Kalibrierung

Ausstattung und technische Details

• Speziell für Praktika und Unterricht entwickelt

• Das komplette Kit beinhaltet alle Komponenten ohne das Breadboard

• inklusive ausführlicher Anleitung und Anwendungsaufgaben

• Einfacher Aufbau und einfache Versuchsdurchführung